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磁光克尔效应测量系统
DXMOKE系列表面磁光克尔系统是一种高灵敏度磁强计。通过检测磁性样品表面反射光强的变化，能得到样品的磁滞回线，而通过磁滞回线，能计算出样品的克尔角和椭偏率。表面磁光克尔系统相比于其他磁性测量系统的优势在于可测试样品单点的微观磁性，并可方便测试材料的各向异性。DXMOKE系列表面磁光克尔系统是研究磁性薄膜、磁性纳米结构和磁性各向异性最理想的工具。 -
微型磁光克尔分析仪
磁光克尔效应可用于测量磁滞线，具有高速、高精度、非接触、非破坏性(无需对样品进行加工或切片等额外操作)，并可获得磁性材料的矫顽力、相对磁化强度和磁各向异性等信息。 -
科研级磁光克尔磁滞回线测试仪
利用磁光克尔效应对铁磁体、人工反铁磁体、二维材料和微电子器件的磁性进行高精度表征，可以同时施加面内和垂直磁场，同时扫描面内磁化分量和垂直磁化分量 -
晶圆级磁光克尔测量仪
利用极向磁光克尔效应(MOKE)，可以快速、全面地检测晶圆堆的磁性。非接触式测量避免了传统磁性表征对晶圆的损伤，可用于制模前后的样品检测。垂直磁场达到2.5T时，垂直各向异性磁随机存取存储器(MRAM)薄膜堆栈的自由层、参考层和固定层会发生翻转 -
自旋测试多功能克尔显微镜
克尔显微镜有一套方法来表征几乎所有的磁性本征参数。与其他表征方法相比，其最大的优势在于可以在小范围(220 nm)内表征局部性质，为各种磁控制实验(如辐照、电压控制、光磁控制)和性质不均匀的材料表征提供了可能。
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