磁光克尔效应测量系统
DXMOKE系列表面磁光克尔系统是一种高灵敏度磁强计。通过检测磁性样品表面反射光强的变化,能得到样品的磁滞回线,而通过磁滞回线,能计算出样品的克尔角和椭偏率。表面磁光克尔系统相比于其他磁性测量系统的优势在于可测试样品单点的微观磁性,并可方便测试材料的各向异性。DXMOKE系列表面磁光克尔系统是研究磁性薄膜、磁性纳米结构和磁性各向异性最理想的工具。
DXMOKE系列表面磁光克尔系统是一种高灵敏度磁强计。通过检测磁性样品表面反射光强的变化,能得到样品的磁滞回线,而通过磁滞回线,能计算出样品的克尔角和椭偏率。表面磁光克 尔系统相比于其他磁性测量系统的优势在于,可测试样品单点的微观磁性,并可方便测试材料的各向异性。DXMOKE 系列表面磁光克尔系统是研究磁性薄膜、磁性纳米结构和磁性各向异性最理想的工具。
可测试材料
- 记录磁头
- 磁性薄膜
- 特殊磁介质
- 磁场传感器
应用方向
- 磁性纳米技术
- 自旋/磁电子学
- 磁性随机存储器
- GMR/TMR
基本功能
- 纵向、横向和极向克尔效应测试;
- 三百六十度电动旋转样品,可测试样品各向异性;
- 手动左右和上下位移样品,可测试样品表面不同点的克尔效应;
- 样品座有电接口,可加入磁电耦合测试。
主要特点
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可以测量同一样品不同部位的磁化情况
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测量灵敏度高,稳定性好,噪音低;
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非接触式测量,是一种无损测量;
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可以测量同一样品厚度不等的楔形磁性薄膜;
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可以将样品放到真空中原位测量。
技术参数
- 克尔角分辨率:0.001 度;
- 椭偏率分辨率:0.1%;
- 最小光斑:10 微米;
- 最大磁场:单维 0.26 特斯拉;
- 样品电动角度步进 0.1 度,手动位移步进 10 微米;
低温选件
- 温度范围:100K ~ 300K;
- 控温精度:±0.01℃;
- 降温时间:30 min to 100K;
- 升温速率:0.01 ~ 30℃/min;
- 样品处于真空环境中;
- K9 玻璃光学窗口,最大限度减小磁致旋光。
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