DX-Hall-200 霍尔效应测试系统是集霍尔效应、磁阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统全面地考虑了仪表配置、电路接线（包括室温和低温的接线）等用户经常忽略的问题，选取了美国Keithley的电测量仪表，磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体， 配备灵巧的测量样品杆，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便地进行样品测试，并获得准确可靠的数据。 此外、系统还有多种低温选件，并可以根据用户现有的仪表和对软件的特殊要求进行特殊改造， 是广大科研工作者对样品进行电输运性质研究的有力工具。

主要配置

U.S．Keithley 设备

主要部分

低温部分（选配）

主要特点

1. 使用插样卡片，方便安装。
2. 一种标准配置可以同时测量两个样品，通过添加可选设备可以同时测量4个样品;
3. 电阻测量范围：0.1mΩ-100GΩ（高电压和阻抗系统）
4. 不同的电流和磁场，不同的测试系统和电阻测量
5. 测试和计算过程由软件自动完成，同时马上提供数据和曲线，节省时间。
6. 系统长时间提供高稳定磁场。零磁场可以平滑。
7. 电磁铁电源内置精密高斯计，现场控制速度快
8. 选择低温器件，霍尔效应和电阻测量可以在不同温度下进行

可测量材料

1. 半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等
2. 低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等
3. 高阻抗材料：半绝缘的GaAs, GaN, CdTe等

主要功能

1. 测量霍尔效应，电阻，I-V曲线和R-T曲线
2. 可测参数：霍尔效应 - 薄层电阻，电阻率，霍尔系数，导电类型，霍尔迁移率，载流子浓度;
3. 磁阻效应：R, △R, (△R/R)%, (△R/R0)%
4. I-V曲线： 不同温度和磁场的I-V曲线
5. R-T曲线：固定磁场，不同温度下，电阻变化曲线
6. R-H曲线：固定温度，不同磁场下，电阻变化曲线

主要技术参数

样品尺寸

1. 小尺寸样品卡：12*12mm²
2. 大尺寸样品卡：50*50mm²
3. 探头样品卡：1*1mm²-20*30mm²

样品测试方法

1. 霍尔效应样品：Si, GaAs等
2. 电阻和I-V样品：4线或6线法

磁场

温度（选配）

标准液氮恒温器：80k-325k

高温液氮恒温器：80-500k

无液氮系统：1.6k-325k

液氮恒温器选项：80-325k

循环冷水机选项：

标准4K冷水机系统：4k-325k

高温4k冷水机：4k-700k

标准10k冷水机系统：10k-325k

高温10k冷水机：10k-800k

微型冷水机系统：45k-325k

电器性能

在以下典型测试条件下：

采样功耗小于1mV，在此条件下，使励磁达到系统配置中推荐的最大电流和电压;

采样温度：295k

样品座不漏电流

每个测试引线电阻25Ω

测量电阻率（V_out / V_in）的电压使用效率应为0.1。

样品形状校正因数：1

磁场和样品厚度测试不确定度在1%之内。

磁场/样品厚度为1T/mm， 注意所测最大的载流子浓度大约比例为此值。所以，更强的磁场和更厚的样品不能提高测试范围。

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