ꁆ ꁇ

DX-Hall-06 霍尔效应测试系统

DX-Hall-06霍尔效应测试系统适用于研究半导体器件和半导体材料电学特性。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度、表面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁致电阻等等参数。霍尔效应系统由电磁铁、高精度电源、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、标准样品、样品安装架、系统软件组成。

ꄴ前一个： DX-Hall-07霍尔效应测试系统

ꄲ后一个： DX-Hall-10T 全自动霍尔效应测试系统

可测试的样品:

半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等
低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等
高阻抗材料：半绝缘的GaAs, GaN, CdTe等

霍尔系统的组成:

系统由：电磁铁、高精度电源、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、标准样品、样品安装架、系统软件。为本仪器系统专门研制的DX-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍耳测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。DX-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

编号	品名	型号	描述
1	电磁铁	DXWD-50	磁场：7000Gs，气隙20mm
2	高斯计	DX-150	精度：读数的±0.30%；分辨率0.01mT；量程0-3T；探头厚度：1.0mm；长度：100mm；数字显示，RS-232接口；探头CDX-800FT
3	电源	F2031	开路输出电压：80V±5V@5A，1000W，RS-232接口，可以数控极性转换
4	探头和探头架		无磁探头架可调节5-70mm
5	软件		调节磁场，数字化，对各种测试材料进行电流测试
6	恒流源	DX-320	电流输出：0.1nA-50mA，电压测试：0.1uV-3V
7	校准样品		硅片/Ga/As，电阻：300-500Ω